電子產品之落摔/衝擊分析｜Radioss

【 背 景 】

       在電子產品的落摔與衝擊分析中，往往因為特殊的結構外型與卡巢設計，導致網格數量相當大且網格的Min. Size很小，需要耗費很長的分析時間。
       本案分享Radioss如何運用獨特的技術，兼顧分析效率與準確度完成衝擊分析，並進一步提取衝擊分析的等效靜態荷載進行最佳化分析。 

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【 成 果 】

       我們以 Radioss 進行電子產品的衝擊分析，技術亮點包含：

• 高精度的一階元素

• 準確的單精度計算

• 動態消散 ADYREL

• 動態鬆弛（Dynamic Relaxation）

• 靜態負載提取

• 接觸剛性調整...等技術

    將不同個案的衝擊分析速度提升2~5倍。

【 技術亮點 】

準確的單精度元素

       Radioss 具備準確的單精度元素，應用在許多案例中相較於雙精度可提高數倍分析速度，同時得到準確的結果。
 

高精度的一階元素:

       quadratic 1st order tetra element（每個節點有6個自由的 tetra 元素）。
 

多次落摔

       過去多次落摔分析在每次落摔之間需要花許多時間進行穩定平衡，而 Radioss 可不需進行 Explicit /Implcit Solver 互換，直接以特有的動態鬆弛（Dynamic Relaxation）技術快速地穩定並完成多次落摔。

擬靜態分析

       針對以 Explicit 進行擬靜態的擠壓分析時，為了提升分析速度我們往往會加快擠壓速度，搭配質量縮放與 Radioss 特有的動態消散（ADYREL），可在提高分析效率的同時得到準確的分析結果。

預緊配與多步驟分析

       針對需要做預干涉/預緊配分析，Radioss 無須進入 Implcit 求解器，避免面對收斂性的困難，可以一次做完預緊配及落摔分析。
 

等效的靜態荷載進行最佳化分析

       Radioss 可以提取衝擊的等效靜態荷載，進行拓樸最佳化或搭配 HyperStudy 進行參數最佳化。
 

準確的接觸

       包含 linear & Non linear 兩種接觸剛度 ，可因應不同難度的的接觸狀況，視需求選用，以達到分析最大效率。